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 Innovation in Failure Analysis and Material Diagnostics of Electronics Compo ... 
 
 
 
Innovation in Failure Analysis and Material Diagnostics of Electronics Components
 
Datum : Wed, 19 Apr 2017 23:25:00 GMT
Quelle : Veranstaltungen - idw - Informationsdienst Wissenschaft
Link : http://idw-online.de/de/event57234

Rund 150 internationale Spitzenforscher und Experten aus der Industrie präsentieren am 26. und 27. April 2017 in einem Workshop am Fraunhofer-Center für angewandte Mikrodiagnostik CAM in Halle (Saale... >>>>>
 
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